国際画像機器展 2025 に出展いたします
2025年12月3日（水）～5日（金）、パシフィコ横浜にて開催される「国際画像機器展 2025」に出展いたします。
今回の展示では、ハイパースペクトルカメラ、SWIR（短波長赤外線）カメラ、ラインスキャンカメラなど、画像処理エンジニアの皆様が求める先進的なカメラソリューションをご紹介する予定です。
画像認識・分析技術の導入をご検討の企業様、新しい撮像技術についてお知りになりたい技術者の皆様は、ぜひお立ち寄りください。
1. なぜ今、これらのカメラ技術が必要なのか？
製造現場や検査工程では、従来の可視光カメラでは検出できない情報が数多く存在します。
- スペクトル情報の活用：材料の同定、異物検査の高精度化
- SWIR領域での情報検出：半導体の内部構造確認、有機物の特性分析
- 高速撮像による検査：ラインスキャンを活用した品質管理の自動化
私たちは、こうした現場の課題を解決するカメラ技術を提供することで、画像処理エンジニアの皆様をサポートしています。
2. 展示会で紹介する3つのカメラソリューション
◆ ハイパースペクトルカメラ | 多波長同時撮像による物質分析
ハイパースペクトルカメラは、可視光からIR領域にかけて数百の波長帯域を同時に撮像できます。
活用例：
- 農業分野：植生指数（NDVI）の計測
- リサイクル・廃棄物処理：材料の自動分別
- 医療・バイオ分析
- 環境・地質調査
各波長での情報を組み合わせることで、対象物の詳細な物性情報が得られます。
📌 関連製品： ハイパースペクトルカメラ
◆ SWIRカメラ | 短波長赤外線領域での高精度撮像
SWIRカメラは、0.9～1.7μmの短波長赤外線領域での撮像が可能です。
活用例：
- 半導体・電子部品の内部検査
- 食品の品質管理・異物検査
- 医療診断機器への組み込み
- 環境・セキュリティ用途
従来のカメラでは見えない情報を捉えることで、検査精度の大幅な向上が期待できます。
📌 関連製品： SWIRカメラ
◆ ラインスキャンカメラ | 高速連続撮像による検査・計測
ラインスキャンカメラは、1行単位で高速連続撮像を行い、2D画像を構成します。
活用例：
- Web（紙、フィルム）の全面検査
- 印字・印刷品質の自動検査
- 連続製造ラインでの不良検出
- 3D形状計測（ラインスキャン＋移動による）
高速化・安定化が求められるラインプロダクション環境で、コスト効率的なソリューションを実現します。
📌 関連製品： ラインスキャンカメラ
3. 展示会での実施予定
ライブデモンストレーション
各カメラの実装例と実際の撮像デモを実施予定です。画像処理の流れ、処理などを含め、実践的な動作をご体験いただけます。
限定オファー
展示会来場者限定で、製品デモの無償提供を予定しております。
4. 出展情報
| 展示会名 | 国際画像機器展 2025 |
| 開催日時 | 2025年12月3日（水）～5日（金）10時～17時 |
| 会場 | パシフィコ横浜 |
| ブース番号 | 39 |
| 入場方法 | 事前登録/当日受付 |
| 入場費 | 無料 |
5. 画像処理エンジニアの皆様へ
私たちは、画像認識・分析技術の導入を考えている企業様や技術者の皆様の課題解決に真摯に取り組んでいます。
展示会では、単なる製品紹介だけでなく、実装レベルでの技術的なご相談も承っております。
- 「今ある課題にはどのカメラが適切か？」
- 「画像処理システムの最適な構成は？」
- 「導入コストはどのくらいか？」
こうした技術的なご質問にもお答えいたしますので、ぜひお気軽にお立ち寄りください。